Nombor Bahagian :
SN74ABT8245DW
Pengeluar :
Texas Instruments
Penerangan :
IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Jenis Logik :
Scan Test Device with Bus Transceivers
Voltan bekalan :
4.5V ~ 5.5V
Suhu Operasi :
-40°C ~ 85°C
Jenis Pemasangan :
Surface Mount
Pakej / Kes :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pakej Peranti Pembekal :
24-SOIC