Nombor Bahagian :
SN74BCT8245ANTG4
Pengeluar :
Texas Instruments
Penerangan :
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
Status Bahagian :
Obsolete
Jenis Logik :
Scan Test Device with Bus Transceivers
Voltan bekalan :
4.5V ~ 5.5V
Suhu Operasi :
0°C ~ 70°C
Jenis Pemasangan :
Through Hole
Pakej / Kes :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Pakej Peranti Pembekal :
24-PDIP