Nombor Bahagian :
SN74ABT8646DW
Pengeluar :
Texas Instruments
Penerangan :
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Jenis Logik :
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Voltan bekalan :
4.5V ~ 5.5V
Suhu Operasi :
-40°C ~ 85°C
Jenis Pemasangan :
Surface Mount
Pakej / Kes :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pakej Peranti Pembekal :
28-SOIC